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교육안내 및 신청

과학기술정보통신부는 TEM 심화의 전문(현장)인력을 양성하기 위한 교육과정의 교육생을 아래와 같이 모집하오니 많은 참여 바랍니다.

TEM 심화 전문인력양성 이론 및 실습 교육 안내

  • 신청기간 : ‘19년 2월 26일(화) 10시 ~ ’19년 3월 4일(월) 12시
  • 신청방법 : 나노기술기반교육과정 홈페이지(ntep.kontrs.or.kr) 신청페이지
  • 교육비
    • 이론교육 : 무료
    • 실습교육 : 나노종합기술원(수원) 10만원, 나노융합기술원(포항) 무료
      * 이론교육을 받은 학생에 한하여 실습교육이 가능하며 실습비용은 실습확정 후 각 기관에 납부
  • 수료증 : 교육을 이수한 수강생에게는 주관기관에서 수여
  • 교육관련 문의처
    • 이론교육 문의 : 나노기술연구협의회 02-6925-4796 (kjw@kontrs.or.kr)
    • 실습교육 문의 : 한국나노기술원(수원) 031-546-6436 (jihye.kim@kanc.re.kr)
                              나노융합기술원(포항) 054-279-0266 (pjw@postech.ac.kr)
      ※ 이론교육을 받은 학생에 한하여 실습교육 가능

    

TEM심화 교육과정 세부내용

  • 교육대상 : 나노기술 관련 학·연·산 연구개발인력
    • 이론교육 : 30명 예정 (조기 마감 될 수 있음)
    • 실습교육 : 나노종합기술원(수원) 10명, 나노융합기술원(포항) 5명(*이론교육 수강 후 시험 평가하여 선발)
  • 이론교육 프로그램 18년 3월 22일(목)
    • 교육일정 : 19.03.12(화)
    • 교육장소 : 차세대융합기술연구원 컨퍼런스룸2(광교 테크노밸리 內)
    • 교육생 등록 및 시작 : 09:00 예정

    교육일정 교육내용 강사이름(소속)
    09:00~09:20 교육생 등록  
    09:20~11:00 TEM영상 형성과 회절기초(결정과 TEM 영상 형성 및 회절상의 형성) 신기삼 교수 (창원대)
    11:00~12:00 회절도형의 해석I
    12:00~13:00 중 식  
    13:00~14:00 회절도형의 해석II 신기삼 교수 (창원대)
    14:00~16:00 Introduction to CBED / Application of CBED 김영운 교수(서울대)
    16:00~18:00 High resolution imaging
    18:00~18:30 시험 및 수료식  
  • 실습교육 프로그램
    • 한국나노기술원(수원)
      - SEM, AFM 이론 및 실습 추가 진행
    • 교육일정 교육내용
        A조 B조
      3/14(목) 10:00~10:30 교육과정안내
      10:30~12:00 전자현미경(SEM) 및 원자간력현미경(AFM) 장비 이론
      12:00~13:00 중식
      13:00~14:00 투과전자현미경(TEM) 장비 이론
      14:00~15:00 투과전자현미경(TEM) 실습
      15:00~16:00
      16:00~17:00
      3/15(금) 10:00~11:00 전자현미경(SEM) 실습 원자간력현미경(AFM) 실습
      11:00~12:00
      12:00~13:00 중식
      13:00~14:00 전자현미경(SEM) 실습 원자간력현미경(AFM) 실습
      14:00~15:00 원자간력현미경(AFM)실습 전자현미경(SEM) 실습
      15:00~16:00
      16:00~17:00
      17:00~18:00 평가 및 만족도 조사(교육 종료 및 수료)
    • 나노융합기술원(포항)
    • 교육일정 교육내용
      3/13(수) 10:00~12:00 투과전자 현미경 Sample Preparation
      - 박막 접합법, 화학 에칭법, 딤플링, Grid 사용법 등
      13:00~14:00 APT(atom probe tomography) 연계 분석법
      - TEM과 연계한 원자탐침 분광분석(3D APT)기술 소개
      - 신뢰성향상을 위한 TEM연계 원자단위 3D 이미징
      14:00~17:00 투과전자 현미경 Sample Preparation
      - Focused Ion Beam (multi-layer 등)
      3/14(목) 10:00~12:00 투과전자 현미경 Sample Preparation
      - Ion milling, Replica, Gentle mill 등
      13:00~17:00 투과전자현미경 구조 및 성분 분석
      - 고분해능 영상 이미지(HREM) 및 에너지 필터링 영상기법(EF-TEM)
      - Powder, Lamella, 기본시료 이미징
      - 에너지 분산형 X-선 분광분석법 (EDS)
      - 전자에너지 손실 분광분석법 (EELS-Map)

주최

주관